您当前的位置：
首页 > 文献资料
所属专业：
Cercom氧化锆文献资料
-
Cercon氧化锆材料的反射光谱
背景:Cercon氧化锆仝瓷修复系统是近年兴起的一种氧化锆陶瓷修复系统.该技术以氧化锆作为底层材料,低温陶瓷作饰面瓷修复患牙,其底层材料的透射率直接影响修复的整体效果.目的:通过对Cercon氧化锆底层材料光谱反射率的测定和分析,对其颜色变化特点作一定的研究.设计,时间及地点:2008-10/2008-11在四川大学华西口腔医学院,口腔疾病研究国家重点实验室完成.材料:Cercon base氧化锆陶瓷材料为德国DeguDent公司产品.方法:将Cercon氧化锆底层材料切割成标准试件,使用Cercon Heat氧化锆高温烧结炉完全烧结后,打磨抛光,并按照饰面瓷烧结程序烧结,使用PR650光谱光度/色度计测定其烧结前后的光谱反射率,后采用spss12.0统计学分析软件数据进行统计分析.主要观察指标:对Cercon氧化锆底层材料在烧结前后反射光谱的相关颜色参数进行观察,包括主波长(色相)、兴奋纯(彩度)和光谱反射率.结果:氧化锆粗胚烧结时只是晶相变化,少有化学反应和分子结构的变化,烧结前后为同一物质.氧化锆粗胚烧结时兴奋纯升高(P<0.05),而反射率则下降(P<0.05).结论:烧结对Cercon氧化锆底层材料的兴奋纯及反射率均有一定影响,氧化锆材料机械性能改变对显色有一定影响.
