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外观形貌文献资料
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翻新电子元器件导致仪器故障的案例分析
通过电信号测试、外观形貌观察、IV特性测试、X-ray观察、C-SAM分析、开封、切片等方法,对由打磨翻新的LB1836型器件导致仪器内置打印机无法正常工作的故障进行失效分析.失效案例展示了LB1836型器件内部芯片本体开裂引起管脚间开路,终导致仪器内置打印机无法正常工作的具体表现,并展示了IC分析的一般步骤和方法.分析表明,所用LB1836型器件为翻新品,翻新过程中,打磨器件表面的机械应力造成内部芯片开裂,从而导致器件管脚间开路,终致使仪器故障.
