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中低能X射线输出量测算的研究
中、低能X射线输出量的测算是放射治疗中辐射剂量学的一项重要内容.国际原子能机构(International AtomicEnergy Agency,IAEA)第277号技术报告将X射线的能量范围划分为高、中、低能3部分,高能是指加速器和60 Co治疗机产生的X及γ射线;中能为深部X射线治疗机产生的100～300kV的常压X射线;低能是指10～100 kV的X射线[1],而国内则通常把临床上使用的中、低能X射线分成3种,即深层治疗为150～400 kV(0.5 mm Cu复合滤过片);浅层治疗为80～120 kV(1～1.4 mm Al滤过片);接触治疗为10～60kV(0～1.0mm Al滤过片)[2],显然,浅层治疗介于中低能两者之间.
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近红外光谱法在药物分析中的应用
近红外(Near Infrared,NIR)光谱的波长范围是780～2526nm(12820～3959cm-1),通常又将此波长范围划分为近红外短波区(780～1100nm)和近红外长波区(1100～2526nm).由于该区域主要是O-H,N-H,C-H,S-H等含氢基团振动光谱的倍频及合频吸收,谱带宽,重叠较严重,而且吸收信号弱,信息解析复杂,所以虽然该谱区发现较早,但分析价值一直未能得到足够的重视.近年来,由于巨型计算机与化学统计学软件的发展,特别是化学计量学的深入研究和广泛应用,使其成为发展快、引人注目的光谱技术[1].而且由于该技术方便快速,无需对样品进行预处理,适用于在线分析等特点,在药物分析领域中正不断得到重视与应用.
