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上颌第二磨牙近中颊根MB2根管的临床研究
目的研究上颌第二磨牙近中颊根第二根管的临床发现率.方法采用改良髓腔入口和探查近中颊根根管口与腭根根管口之间发育沟或暗线的方法研究上颌第二磨牙近中颊根第二根管的肉眼发现率.结果60例患者的64颗上颌第二磨牙中有19颗存在近中颊根第二根管,发现率为29.7%.结论改良髓腔入口和探查近中颊根根管口与腭根根管口之间发育沟或暗线的方法,有利于发现和治疗上颌第二磨牙近中颊根第二根管.
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上颌第一磨牙近中颊根第二根管的临床发现率探讨
目的 研究上颌第一磨牙近中颊根第二根管的临床发现率.方法 采用改良髓腔入口和探查近中颊根根管口与腭根根管口之间发育沟或暗线的方法研究上颌第一磨牙近中颊根第二根管的肉眼发现率.结果 20例患者的24颗上颌第一磨牙中有14颗存在近中颊根第二根管,发现率为58.3%.结论 改良髓腔入口和探查近中颊根根管口与腭根根管口之间发育沟或暗线的方法,有利于发现和治疗上颌第一磨牙近中颊根第二根管.
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分角线投照和内窥镜提高上颌第二乳磨牙近中颊根第二根管检出率
目的:比较肉眼和耳鼻喉内窥镜条件下,上颌第二乳磨牙近中颊根第二根管(MB2)的检出率.方法:选取患牙髓炎或根尖周炎的上颌第二乳磨牙102颗,分为A组和B组.两组均采用改良开髓口,X线片均于近中或远中20°角投照;A组常规肉眼下探查寻找MB2,B组采用耳鼻喉内窥镜下探查寻找MB2,记录MB2检出率.结果:A组和B组MB2检出率分别为11.76％和33.33％,两组存在显著差异(P＜0.05).结论:应用分角线投照和内窥镜可以极大地提高MB2检出率.
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改良髓腔入口对上颌第一、二磨牙近中颊根第二根管临床发现率的影响
目的:改良髓腔入口方式探究上颌磨牙近中颊根第二根管的临床发现率.方法:采用改良髓腔入口和探查近中颊根根管口与腭根根管口之间发育沟或暗线的方法研究上颌磨牙近中颊根第二根管的肉眼发现率.结果:553例患者的574颗上颌第一磨牙中有356颗存在近中颊根第二根管,发现率为62.02％；529例患者637颗上颌第二磨牙中有294颗存在近中颊根第二根管,发现率为46.15％.结论:改良髓腔入口和探查近中颊根根管口与腭根根管口之间发育沟或暗线的方法,有利于发现和治疗上颌第一、二磨牙近中颊根的第二根管.
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上颌第一磨牙近中颊根第二根管肉眼发现率的临床研究
选择临床209例上颌第一磨牙,采用改良髓腔入路探查并治疗近中颊根第二根管( MB2),研究其临床发现率和影响因素.结果显示209例上颌第一磨牙MB2临床肉眼发现率为45.9％,年龄及再治疗对其发现率有显著影响.MB2在上颌第一磨牙中具有较高发生率,年轻患者及未经治疗病例在临床肉眼操作下更易发现MB2根管口.
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上颌第一磨牙根管治疗术失败是由于遗漏近中颊根管第二根管吗?
由于现在技术改进,发现上颌第一磨牙的近中颊根管有分枝,即所谓近中颊根管的第二根管,简称为MB2.这是好事,说明对根管的研究又有了新进展.但是有些作者对发现MB2后提出的某些结论,则不敢苟同.
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根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的发现率比较
目的：比较根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的发现率。方法：选取我院口腔科于2009年12月-2012年12月间拔除的106颗离体上颌第一磨牙作为研究对象，随机分为 S 组与 D 组，每组各53颗。S 组采用改良开髓口，根管显微镜下探查寻找 MB2，计算和统计发现率；D 组则将53颗牙制成透明标本，观察近颊根的解剖形态，并通过根管显微镜查找 MB2，计算和统计发现率，对两组试验的发现率进行分析比较。结果：在改良开髓口根管显微镜条件下，S 组中共计在42颗牙下发现 MB2，S 组的发现率为79.25%，D 组中共计在45颗牙下发现 MB2，D 组的发现率为84.91%，两组比较差异无统计学意义（P>0．05）。结论：使用根管显微镜 MB2的发现率与实际发生率相接近。
