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快电容文献资料
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全自动膜片钳放大器快电容补偿技术改进
介绍了膜片钳放大器中快电容产生的机理,根据新的快电容电气模型设计出相应的补偿硬件电路和软件算法,并通过计算机实现自动补偿.实验结果表明,该补偿技术能够快速有效的消除快电容瞬态电流,提高实验的操作效率和数据准确性.
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快电容补偿方法对提高神经元细胞动作电位发放精度的影响
膜片钳技术是通过测量pA级细胞离子通道电流来研究各种离子通道及其调控机制,但测量对象和测量仪器本身引入的快电容(C-fast)和慢电容(C-slow)伪差信号,会改变动作电位的发放特性.本文首先讨论快电容伪差信号对膜电容以及膜电位的影响,并且通过对H-H模型中膜电位变化的分析,得出膜电位变化对动作电位发放特性的影响.在此基础上,主要通过对传统快电容补偿误差的分析,讨论其影响机制,并对电极电容形状对快电容的影响进行了重点讨论.通过这种方法不仅可以大大提高补偿速度,而且从电极形状上也可以尽量提高补偿的精度.
