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髓腔钙化物文献资料
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上颌磨牙近中颊根第二根管口的解剖定位
目的寻找上颌磨牙近中颊根第二根管(MB2)根管口的定位规律.方法收集离体上颌第一、二磨牙共550颗.根管显微镜(DOM)下探查根管口,拍摄髓底图片,测量髓底一系列参数,分析MB2根管口定位规律.结果DOM下MB2发现率在上颌第一磨牙和第二磨牙分别为78.24%和41.32%.MB2根管口位于MB-P根管口连线的近中,与该连线的垂直距离在上颌第一磨牙和第二磨牙分别为0.66mm和0.63 mm;距近颊根主根管(MB)根管口距离分别为1.32 mm和1.21 mm.结论建议临床医生在探查上颌磨牙髓底时,可在MB-P根管口假想连线的近中、距其0.5～1.0mm,距MB根管口1.0～2.0mm,使MB-MB2根管口间假想的、微凸向近中的弧形连线与近中边缘嵴平行处寻找MB2根管口.
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影响器械进入上颌磨牙近颊根第二根管的因素
目的:分析影响器械进入上颌磨牙近颊根第二根管的因素和评价根管显微镜定位离体上颌磨牙近颊根第二根管的能力.方法:①收集离体上颌第一、二磨牙共550颗;②在常规和根管显微镜辅助下分别探查近颊根管,记录近颊根第二根管检出率和影响器械进入该根管的因素.结果:①常规和根管显微镜条件下近颊根第二根管检出率在上颌第一磨牙分别为51.8%(112/216)和78.2%(169/216);第二磨牙分别为23.7%(79/334)和41.3%(138/334).使用根管显微镜可明显提高近颊根第二根管的检出率,P<0.01;②影响器械进入近颊根第二根管的主要因素有近中壁牙本质悬突、牙本质碎屑和髓腔弥漫性钙化物或髓石等.结论:根管显微镜辅助下可有效去除阻碍器械进入近颊根第二根管的因素,提高其检出率.
