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内插函数文献资料
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基于像素采样不足的伪迹处理方法
在实际的三维锥束CT重建中,受扫描结构的限制,当连续X射线穿过物体时,像素对射线的采样间隔不能满足Nyqust采样定理,这样通道信号产生混叠,使得重建图像出现伪迹.本论文针对这一问题,在用splatting算法[1-2]计算代数重建算法权系数的基础上,分析了伪迹产生的原因并对对应的内插函数作了适当的变换,提出了适用于3-D锥束圆轨迹CT扫描系统的去伪处理方法.结果 表明,经过去伪处理后,重建图像的分辨率明显提高.
