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树脂黏接剂文献资料
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电子探针观察氧化锆与树脂黏接断面的研究
目的观察经二氧化硅(silica,SiO2)表面处理的摩尔分数为3%的氧化钇稳定的四方多晶氧化锆(3Y-TZP)与树脂黏接后的断面,了解SiO2表面处理在3Y-TZP与牙科树脂黏接中的作用. 方法用溶胶-凝胶法在4个3Y-TZP试样上制备SiO2薄膜作为薄膜组;另外4个3Y-TZP试样作为对照组.分别用EPMA-8705QH2电子探针和INCA Energy能谱仪观察两组试样在拉伸剪切试验后的黏接断面. 结果背散射电子形貌像显示两组的3Y-TZP基底面均未破坏,但薄膜组表面残留的树脂黏接剂颗粒较多.电子探针能谱分析显示薄膜组在3Y-TZP表面存在比对照组高的硅峰谱.结论经SiO2表面处理后的3Y-TZP可提高与牙科树脂的黏接力.