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X线头影测量Coben分析法在安氏Ⅲ类错牙合诊断中的意义
Coben分析法是1955年Coben提出的一种X线头影测量分析方法,在X线头颅定位侧位片上测量面部的深度和高度,是以线距测量为主的分析方法,通过各测量值相互间的关系来分析颅面结构的特征[1].冯小东等研究认为,Coben分析法在骨性安氏Ⅲ类错牙合畸形的诊断、提供正确的矫治设计依据及颌面生长发育的研究上,比角度分析更直观,更容易理解,具有临床应用价值.本文将对Coben分析法在安氏Ⅲ类错牙合诊断及制定矫治计划中的意义进行综述.