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线粒体DNA氧化损伤热点的形成及其修复速率的比较
本研究旨在探讨线粒体DNA氧化损伤热点的形成是否与该点DNA修复速率慢有关. BRL-3A 细胞暴露于50 mmol*L-1过氧化氢(H2O2) 30 min后, 分别于0, 1, 4及24 h收获细胞, 应用连接介导聚合酶链反应分析线粒体DNA氧化损伤热点的修复百分率并与线粒体DNA氧化损伤的总修复百分率比较, 通过狭缝印迹法, 比较了各时间点细胞内p53/线粒体DNA比率来验证其修复的可靠性. 结果表明：在4及24 h, 热点的修复速率分别为5.2%和42.1%. 而线粒体DNA的总修复百分率分别为76.9%和84.1%, 后者与前者相比, 其修复速率快1～14倍左右. 应用狭缝印迹发现各时间点细胞内p53/线粒体DNA比率无明显变化. 因此, 线粒体DNA氧化损伤热点的形成与其修复速率较慢有关. 狭缝印迹结果表明所观测的线粒体DNA的修复是可信的.
关键词： 线粒体DNA修复 氧化损伤热点 连接介导聚合酶链反应
