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  • X射线荧光光谱技术在中药分析中的应用

    作者:聂黎行;朱俐;戴忠;马双成

    无机成分是中药物质基础的重要组成部分。X射线荧光光谱技术具有准确、快速的特点,是中药元素分析的有效手段。本文对20年来X射线荧光光谱在中药分析方面的应用进行了综述,涉及元素测定、质量评价等领域。展望了X射线荧光分析方法在中药行业的应用前景。

  • X射线荧光光谱法在法庭科学中的应用

    作者:习豆

    作为物质组成分析的重要技术手段之一,X射线荧光光谱检测技术(XRF)现已运用于生物、工业、药物、食品等领域,同时,在法庭科学领域也得到了广泛的应用,可以为侦查破案提供线索,为证实犯罪提供科学的依据.

  • X射线荧光光谱法定性和定量筛选电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴

    作者:宋武元;郑建国;肖前

    本文提出了用X射线荧光光谱法定性和定量筛选电子电气设备中限制使用物质铅、汞、铬、镉和溴的一种新的测试方法.方法研究了金属材料基体、聚合物基体和不同电子产品等对待测元素的基体影响,研究了基体、元素间的谱线重叠所产生的光谱干扰.考察了样品大小不同和样品厚度不同对待测元素测试结果的影响,并选用Rh线的康普顿散射线作内标来校正这些非光谱干扰的影响.方法选用有证标准物质制作工作曲线,各待测元素的浓度范围从0.1mg/Kg到200rg/Kg,均获得非常好的线性关系,选用有证标准物质BCR-681,并设置100s测量时间来计算铅、汞、铬、镉和溴的低检出限,其检出限分别为PbL(0.64mg/Kg、Hg L(0.51mg/Kg、Cr K(0.78mg/Kg、Cd K(1.10mg/Kg和Br K(0.27mg/Kg.以BCR-681作为实际样品进行测试,其结果与标准推荐值非常吻合.

  • X射线荧光光谱法测定铬矿中Cr、Fe、Ca、Si、S、P等元素

    作者:张立霞;曲强;宋嘉宁;黄健;袁亚忠

    [目的]选定X射线荧光光谱法测定Cr、Fe、Si、S、P等元素的背景,找出谱线重叠的校正方法.[方法]采用熔融法制样,用X射线荧光光谱仪对铬矿中Cr、Fe、Si、S、P等组分进行测定,用理论α系数法进行基体效应和谱线重叠干扰校正.[结果] 用该法测定进口铬矿样品,其测试结果与化学分析值基本相符,回收率96.3%~103.2%范围.[结论]该方法简便、快速、准确,能满足日常分析要求.

  • X射线荧光光谱法测定乳粉中的微量元素

    作者:王谦;许小丽;房科腾

    采用粉末压片制样波长色散X射线荧光光谱法测定乳粉中的氮、钠、镁、磷、氯、钾、钙。从仪器的X射线光管铍窗厚度、电流大小、测量时间和样品制样压力等方面研究了氮元素的测定。选择不同种类的乳粉,由标准方法定值,然后与标样一起建立校准曲线,校准曲线采用理论α影响系数法校正基体效应。研究发现铍窗厚度是制约氮元素测定的主要因素;样品均质处理必须用手工研磨的方法;X射线可以造成乳粉损伤,随着时间增加,测量结果呈线性增加趋势。结果与标准方法比对,两者相符,氮元素的检出限和精密度RSD(n=9)分别为0.09%和2.9%,其他元素的检出限和精密度RSD(n=9)分别都小于0.001%和3%。

  • X射线荧光光谱测定纯铜样品中微量和痕量杂质元素

    作者:宋武元;钟沛余;梁静;郑建国

    以英国进口的纯铜标准样品制作工作曲线,采用专用的空白标样和多点多项式方法计算峰底背景.用干扰曲线法进行基体效应和谱线重叠干扰的校正,部分重金属痕量元素选择高反射率的人工晶体PX-9来测定,开发了用X射线荧光光谱测定纯铜样品中除Cu外18个痕量杂质元素的方法.用该方法测定纯铜标准样品,其测试结果与直读光谱测定值基本相符,回收率在95%~105%范围,各元素的相对标准偏差RSD%均小于5.0%

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