您当前的位置：
首页 > 文献资料
所属专业：
漏减文献资料
-
Axon公司膜片钳系统的漏减分析
目的和方法:采用大鼠海马脑片盲法膜片钳的全细胞记录技术,研究美国Axon公司生产的膜片钳系统(Axopatch放大器和pClamp软件)中几种漏减功能的意义和作用机制,重点对定标P/N漏减(Scaled P/N leak subtraction)、膜片钳放大器漏减以及Clampfit处理软件漏减功能的选择与使用进行分析与比较.结果:Clampex采样软件中的定标P/N漏减功能比P/N漏减功能的噪声要小;放大器漏减功能可漏减单一去极化电压幅度所诱发的漏电流,但不能同时对不同电压幅度系列去极化所产生的稳态漏电流进行追踪漏减;Clampfit漏减功能由于其设定只要膜两侧存在电位差就有漏电流产生,因而不适合在记录电压门控性离子通道电流时对稳态漏电流进行漏减.结论:在研究电压门控性离子通道的性质时,可采用P/N漏减功能或定标P/N漏减功能对稳态漏电流进行漏减,而Clampfit漏减功能是不合适的.
-
膜片箝pClamp采样软件中的P/N漏减分析
本文采用大鼠海马脑片盲法的全细胞记录技术, 研究了Axon公司pClamp采样软件Clampex中P/N漏减的功能意义和作用机制, 对P/N漏减脉冲电流的采集以及漏减脉冲的时间、极性、箝位电压、数目、位置等参数的设置进行了详细分析.结果表明, 在采集电压门控性离子通道电流时, 合理地利用P/N漏减会使离子电流记录更为准确可靠.
