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线粒体ATP敏感性钾通道在头部浅低温减轻大鼠全脑缺血再灌注损伤中的作用
目的 评价线粒体ATP敏感性钾通道在头部浅低温减轻大鼠全脑缺血再灌注损伤中的作用.方法 健康雄性SD大鼠32只,体重200～250 g,随机分为4组(n=8):假手术组(S组)、全脑缺血再灌注组(I/R组)、头部浅低温组(H组)和5-羟基葵酸钠组(5-HD组).采用三血管阻断法建立大鼠全脑缺血再灌注模型.S组仅分离血管,不阻断;I/R组制备大鼠全脑缺血再灌注模型;H组于再灌注前即刻实施头部浅低温(使鼓膜温度在1 min内降至32～34℃),维持3 h后复温;5-HD组于缺血前30 min腹腔注射5-羟基葵酸钠10 mg/kg,于再灌注前即刻实施头部浅低温.于再灌注12 h时评估大鼠神经行为学(跨格次数和转体时间),采用EIJSA法测定血清神经元特异性烯醇化酶(NSE)的浓度,电镜下观察额叶皮质神经元的超微结构.结果 与S组比较,I/R组、H组和5-HD组跨格次数减少,转体时间延长,I/R组和5-HD组血清NSE浓度升高(P<0.05),H组血清NSE浓度差异无统计学意义(P0.05);与I/R组比较,H组跨格次数增多,转体时间缩短,血清NSE浓度降低,5-HD组转体时间缩短(P<0.05),其余指标差异无统计学意义(P0.05);与H组比较,5-HD组跨格次数减少,转体时间延长,血清NSE浓度升高(P<0.05).H组额叶皮质神经元病理学改变较I/R组和5-HD组减轻,5-HD组与I/R组损伤程度相似.结论 头部浅低温减轻大鼠全脑缺血再灌注损伤可能与开放线粒体ATP敏感性钾通道有关.
