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221例脑深部电刺激术后和硬件相关并发症分析
目的 总结分析脑深部电刺激术(deep brain stimulation,DBS)后和硬件相关并发症发生原因及改进方法.方法 回顾性总结221例DBS术后病人和硬件相关并发症的发生情况.2例病人凶颅内出血没有统计在内.219例病人共植入328侧电极.结果 随访时间3-35个月,平均16.1个月.219例病人共发生和DBS硬件相关的并发症26例(11.9%)涉及21侧电极(6.4%).切口感染和(或)破溃12例(5.5%),异物反应2例(0.9%),电极短路和断路4例(1.8%),脑脊液漏3例(1.4%),电极移位5例(2.3%).其中切口感染和(或)破溃的发生率高.结论 通过对DBS和硬件相关并发症的分析表明上述并发症的发生率是十分可观的.预防减少并发症的发生和改进处理方法 可以使DBS更充分地发挥其治疗作用.
