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ICP-AES法同时测定碳酸锂原料药中6种杂质元素
目的:建立电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)同时测定碳酸锂原料药中6种杂质元素(钙、钠、钾、镁、铁和铝)的分析方法,并分析不同厂商碳酸锂原料药的杂质含量。方法:用硝酸溶解样品, ICP-AES法分析样品中6种杂质元素的含量。结果:6种元素标准曲线的相关系数均高于0.999,加标回收率为93%~99%,检出限为0.0003~0.1275μg·mL-1,RSD值均小于2%;利用本法对5个厂家使用的碳酸锂原料药进行测定,结果表明C厂的原料药中钙、钠、镁、铁和铝元素含量均高于其余4个厂家,其中钠超出了药典规定限度。结论:与《中国药典》中碳酸锂原料药杂质测定方法进行比对,本试验所建立的方法测定结果与药典方法一致,且方法专属性强、灵敏度高、操作简单,可以用于碳酸锂原料药中6种杂质元素的测定。
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EDXRF在外科植入物阳极氧化层杂质元素检测中的应用
该文使用X射线荧光能谱仪建立了钛及钛合金表面阳极氧化层中Na、Si、P、S等杂质元素定性半定量分析的检测方法.锁定接骨板产品表面层含有P元素,平均值为1.01%.枕骨板产品表面层含有Si元素,平均值为1.39%.该检测方法具有方便快捷、样品无需预处理等优点,是外科植入物表面阳极氧化层杂质元素定性半定量分析较为理想的检验方法.
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ICP-AES法测定松树脂中铁、铅、铜、锌、铝
研究了用ICP-AES法测定松树脂中的铁、铅、铜、锌、铝的方法,确定了松树脂中杂质元素同时测定的佳工作条件,并对实际样品进行了AAS法对比测定,回收率在91%~104%之间,结果令人满意.该方法快速、简便、可靠,适用于出口松树脂的日常检验.
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发射光谱法测定二氧化碲中的杂质元素
采用发射光谱粉末法同时测定二氧化碲中Pb、Mn、Ba、Sn、Fe、Co、Cd、Al、Si、B、Bi、Ni、Sb、Zn、Ag、Mg、Cu 17种杂质元素的含量.选择KCl和石墨粉混合物作载体,直接压样于细颈杯式石墨电极中,其回收率为80%~120%,相对标准偏差1.8%~6.5%.该方法操作简单,快速且结果准确.
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ICP-AES测定氧化锆中杂质元素含量的研究
利用ICP-AES测定了出口二氧化锆中的杂质元素的含量,对不同的溶样方法进行了对比,并对溶样方法,检测条件等进行了优化,给出了待测元素的方法检出限.本法对氧化锆中的Na,Ca,Fe.Mn,Si.Ti,Ni,Ai等8种微量杂质元素的测定进行了研究,在取样量为500mg时,它们的测定范围在5~40μg/g之间,回收率在92%~108%(n=8)之间,相对标准偏差RSD在4%~10%之间.并对实际样品进行了检测,结果和用国标法的结果基本一致.加标回收率在90%~110%之间.
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ICP-AES法同时测定镍矿中8种杂质元素的含量
用电感耦合等离子体原子发射光谱仪测定镍矿中的镉、铬、铜、铅、锡、铋、钴和锌.样品用盐酸溶解,氢氟酸助溶,高氯酸冒烟除去氢氟酸,用盐酸溶解盐类后,在选定的测量条件下以ICP-AES测定溶液中的镉、铬、铜、铅、锡、铋、钴和锌的浓度.本法测定范围为0.002%~0.3%,回收率在96.90%~101.35%之间,相对标准偏差0.34%~1.78%(n=8).
关键词: 电感耦合等离子体原子发射光谱仪 杂质元素 镍矿 -
制样方法对金属硅分析试样Fe含量的影响
1前言金属硅的Si含量是通过分析Fe、Al、Ca等杂质元素加以确定的.杂质元素的多少,在很大程度上决定了金属硅的品质和用途,分析结果的准确性受到人们的重视.重要产品经常采取几个实验室同时分析的方式,以确定其杂质元素的准确含量.
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钼铁中Cu、P和Si的快速测定
1前言钼铁合金是冶炼结构纲等特种钢材必不可少的添加剂,在铁合金类出口商品中占比重较大,其杂质元素Cu、P和s的测定,在国标中分别采用原子吸收、光度法及重量法,在行业标准中这3种元素测定均采用光度法,但都需要分别称样和试样处理,步骤繁琐,周期冗长.
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国内外锆矿及金属锆材料元素分析标准方法的比较
本文综述了近二十年来锆矿与金属锆材料分析方法的进展.对中、日等国的分析方法,即对要求控制杂质元素的数量、各元素分析时所用的分析方法进行了比较.讨论了仪器分析是现代分析化学的主要标志及痕量杂质元素的测定更应受重视;论证了标准方法的实用性和建立锆产品分析的检验检疫标准方法的必要性.