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X射线电子计算机断层文献资料
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巨脑回和无脑回畸形的CT、MRI诊断
结合巨脑回和无脑回畸形的病理特点,研究两种病变的CT、MRI表现特征,以评价两种影 像学检查方法该病变的诊断价值.回顾分析15例巨脑回和无脑回畸形的临床和影像资料,其中CT检查12例,MRI检查3例.结果显示: CT、MRI显示无脑回畸形7例,双侧全大脑半球的巨脑回畸形5例,单侧大脑半球的局限性巨脑回畸形3例.病变在CT、MRI上 表现为皮层增厚,白质减少;脑表面扁平光滑,或仅有少许宽大脑回和浅小脑沟;脑灰-白质界 面光滑.在12例全脑受累的病变中,侧裂浅小,脑岛暴露,大脑中动脉侧裂段贴近颅骨内板 走行,大脑轮廓呈哑铃形或"8"形.伴随的脑发育异常包括灰质异位(5例),Ⅰ型脑裂畸 形(2例),胼胝体发育不良(1例).本研究表明:巨脑回和无脑回畸形的病理改变具有特征,CT和MRI是评价这些病理特征的优良检查方法.
关键词: 巨脑回畸形 无脑回畸形 X射线电子计算机断层 磁共振成像