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磁共振波谱成像、事件相关电位及脑震荡后综合征问卷评分在轻度创伤性脑损伤中的应用价值研究

陶仅德；李秋雨；漆强；曾鹏；刘晓；吴贵平
关键词： 脑损伤 磁共振成像 事件相关电位 P300 脑震荡后综合征

摘要： 背景轻度创伤性脑损伤（mTBI）较常见且其引发的脑震荡后综合征严重困扰着患者的生活，由于其临床表现相对主观，相关辅助检查阳性率不高，临床诊断尚存争议，因此探寻早期诊断、评估预后的有效检测手段尤为重要。目的探讨磁共振波谱成像（MRS）、事件相关电位（P300）及脑震荡后综合征问卷（RPQ）评分在 mTBI 中的应用价值。方法2012年5月—2015年6月选取东莞东华医院符合纳入标准的 mTBI 患者30例为病例组，同期选取于本院体检健康的志愿者30例为对照组。两组分别进行 MRI 检查、P300检测和 RPQ 评分，分别测量其大脑的基底核、额叶白质、半卵圆中心、胼胝体膝部、胼胝体压部左侧及其右侧的代谢物〔 N -乙酰天冬氨酸（ NAA）、肌酸（Cr）、胆碱（Cho）〕水平，并记录病例组患侧、健侧 NAA/ Cr、Cho/ Cr，对照组左侧、右侧 NAA/ Cr、Cho/ Cr，记录两组 P300波幅、P300潜伏期、RPQ 评分。结果两组常规 MRI 检查均未见异常，病例组额叶白质、半卵圆中心患侧NAA 峰较其健侧下降、Cho 峰较其健侧升高。对照组基底核、额叶白质、半卵圆中心、胼胝体膝部、胼胝体压部左侧NAA/ Cr、Cho/ Cr 与右侧比较，差异无统计学意义（ P ﹥0.05）；病例组基底核、胼胝体膝部、胼胝体压部患侧 NAA/ Cr、Cho/ Cr 与健侧比较，差异无统计学意义（ P ﹥0.05）；病例组额叶白质、半卵圆中心患侧 NAA/ Cr 小于健侧， Cho/ Cr 大于健侧（P ﹤0.05）。病例组 P300波幅小于对照组，P300潜伏期、RPQ 评分大于对照组（P ﹤0.05）。病例组额叶白质、半卵圆中心患侧的 NAA/ Cr 与 P300波幅呈正相关（r =0.874，P ﹤0.001；r =0.883，P ﹤0.001），与 P300潜伏期（r =-0.813，P ﹤0.001；r =-0.850，P ﹤0.001）、RPQ 评分（ r =-0.617，P ﹤0.001；r =-0.627，P ﹤0.001）均呈负相关；病例组额叶白质、半卵圆中心患侧的 Cho/ Cr 与 P300波幅均呈负相关（r =-0.862，P ﹤0.001；r =-0.749，P ﹤0.001），与 P300潜伏期（r =0.607，P ﹤0.001；r =0.552，P =0.002）、RPQ 评分（r =0.786，P ﹤0.001；r =0.558，P =0.001）均呈正相关。结论 MRS 能从分子层面反映 mTBI 患者伤后脑组织的生化及组织代谢的变化情况，P300能客观地反映 mTBI 患者的认知功能受损情况，RPQ 评分能较客观地反映 mTBI 患者脑震荡后综合征的严重程度，三者结合在 mTBI 的早期诊断、评估及预后中有着重要意义。

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